Схема, для определения характеристик полевых транзисторов с p-n переходом (JFET), представленная Кором ван Риджем [1], является удачным решением. Следует отметить использование пятиконтактного тестового разъема, рассчитанного на все возможные варианты расположения выводов JFET.
В данной статье используется такая же конфигурация разъема, но в более простой схеме. Единственным требованием является наличие двух цифровых мультиметров, имеющих функцию удержания показаний. Помимо точности, при разработке этого тестера были поставлены и другие цели:
- Прибор должен быть достаточно простым, чтобы его можно было собрать без изготовления печатной платы.
- Максимально использовать имеющиеся под рукой компоненты.
- Возможность проверки устройств с n- и p-каналами при использовании одного источника напряжения.
- Использовать широкий диапазон напряжений питания.
- Предусмотреть ограничение тока со светодиодной индикацией достижения его предельного значения.